MJ3401系列是用于可充(chong)電(dian)(dian)鋰(li)離子(zi)(zi)/鋰(li)聚合(he)物(wu)電(dian)(dian)池(chi)的保(bao)護IC，它(ta)將保(bao)護IC和MOS-FET結合(he)在一個封裝(zhuang)中。 可對鋰(li)離子(zi)(zi)/鋰(li)聚合(he)物(wu)單串電(dian)(dian)池(chi)的過(guo)充(chong)電(dian)(dian)、過(guo)放電(dian)(dian)、放電(dian)(dian)過(guo)電(dian)(dian)流、短(duan)路及充(chong)電(dian)(dian)過(guo)電(dian)(dian)流進行(xing)檢測。OTP技術(shu)實現了對電(dian)(dian)池(chi)異常情況的超精確檢測和保(bao)護。

單串用

（1）各(ge)種檢(jian)測/解除電壓的選擇與(yu)精度

　● 過充電檢測電壓(ya) 4.10V ~ 4.60V，5mV step 精度±10mV 

　● 過(guo)充電解除滯后電壓 0V、0.1V、0.2V 

　● 過放(fang)電(dian)檢(jian)測電(dian)壓 2.00V ~ 3.00V 100mV，精度±35mV 

　● 過放電(dian)解除滯后電(dian)壓 0 V、0.2 V、0.3 V、0.4 V 

　● 放(fang)電過電流檢測電流 4.0 A ~ 8.0 A，0.1 A step（注1）

　● 充電過(guo)電流(liu)檢測電流(liu) 4.0 A ~ 8.0 A，0.1 A step（注1）

　● 短路檢(jian)測電壓(ya) 180mV ~ 360mV，10mV step 精度(du)±15mV 

（2）各種(zhong)檢測延時(shi)時(shi)間的選(xuan)擇范圍

　● 過充電檢測延時時間 1.024s、4.60s 

　● 過放電檢測延時(shi)時(shi)間(jian) 20ms、96ms、144ms 

　● 放(fang)電過電流檢(jian)測(ce)延(yan)時時間 6ms、8ms、12ms、16ms、20ms、32ms、128ms、256ms 

　● 充(chong)電(dian)過電(dian)流檢測延(yan)時時間 8ms、16ms、32ms 

　● 短路(lu)檢測延時時間 500μs、820μs 

（3）0V電(dian)池充(chong)電(dian)功能 可選擇［禁止］/［允許］

（4）低消耗電流

　● 正常工(gong)作模式時 Typ. 4.5μA， Max. 7.0μA

　● 待機模式時(shi) Max. 0.1μA （當有“過放電鎖定功能”時(shi)）

                  Max. 0.3μA （當(dang)無(wu)“過放電(dian)鎖(suo)定(ding)功(gong)能”時）

（5） MOS-FET的源對(dui)源導通(tong)電阻(zu) Typ. 11.0mΩ（@VCC=3.6V）

注1：過電流檢(jian)測電流的精度會根據設定值變化。 了解(jie)更多(duo)詳情，請聯系我們。