火(huo)(huo)焰(yan)檢(jian)測放(fang)大(da)(da)器(qi)(qi)(qi)集成了一(yi)個(ge)(ge)運(yun)算放(fang)大(da)(da)器(qi)(qi)(qi)和一(yi)個(ge)(ge)比較器(qi)(qi)(qi),并(bing)在(zai)單電(dian)源下實現了極(ji)低的(de)失調電(dian)壓(ya)。 由于可(ke)(ke)以使用單一(yi)的(de)電(dian)源,該IC可(ke)(ke)以在(zai)兩節電(dian)池(chi)的(de)電(dian)壓(ya)下工(gong)作。 通過(guo)使用一(yi)個(ge)(ge)運(yun)算放(fang)大(da)(da)器(qi)(qi)(qi)和比較器(qi)(qi)(qi),火(huo)(huo)焰(yan)檢(jian)測放(fang)大(da)(da)器(qi)(qi)(qi)可(ke)(ke)以單獨放(fang)大(da)(da)熱電(dian)偶的(de)電(dian)磁場,并(bing)根據放(fang)大(da)(da)器(qi)(qi)(qi)的(de)輸(shu)出檢(jian)測點(dian)火(huo)(huo)。 低偏移電(dian)壓(ya)也提高了點(dian)火(huo)(huo)檢(jian)測的(de)準確性。